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申请/专利权人：北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司
摘要：本申请提供一种检测基板及检测方法、微流控芯片及其制备方法，涉及生物分子检测技术领域，所述检测基板包括：基底；检测层，所述检测层设置在所述基底一侧，所述检测层包括阵列排布的多个检测结构以及修饰层，所述修饰层设置在每个所述检测结构的至少部分表面上，所述修饰层用于结合靶标；其中，所述检测层包括至少一个检测功能区，不同的检测功能区分别在所述基底上的正投影无交叠，不同的所述检测功能区内的所述修饰层用于结合不同靶标，所述不同靶标至少包括分子类靶标和或细胞类靶标。
主权项：1.一种检测基板，其特征在于，所述检测基板包括：基底；检测层，所述检测层设置在所述基底一侧，所述检测层包括阵列排布的多个检测结构以及修饰层，所述修饰层设置在每个所述检测结构的至少部分表面上，所述修饰层用于结合靶标；其中，所述检测层包括至少一个检测功能区，不同的检测功能区分别在所述基底上的正投影无交叠，不同的所述检测功能区内的所述修饰层用于结合不同靶标，所述不同靶标至少包括分子类靶标和或细胞类靶标；所述检测层包括多个第一检测单元和第二检测单元，所述第一检测单元与所述第二检测单元沿行方向交替排布，所述多个检测结构包括位于所述第一检测单元的多个第一检测结构，以及位于所述第二检测单元的多个第二检测结构；其中，所述第一检测结构与所述第二检测结构在所述基底上的正投影形状为奇数边的正多边形，所述第一检测结构与所述第二检测结构在所述基底上的正投影形状的取向相反，且相邻的所述第一检测结构与所述第二检测结构在所述基底上的正投影的相对的侧边互相平行，或，所述第一检测结构与所述第二检测结构在所述基底上的正投影形状为偶数边的正多边形，所述第一检测结构与所述第二检测结构在所述基底上的正投影形状的取向相同，且相邻的所述第一检测结构与所述第二检测结构在所述基底上的正投影的相对的侧边互相平行。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京京东方技术开发有限公司 京东方科技集团股份有限公司 一种检测基板及检测方法、微流控芯片及其制备方法
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