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申请/专利权人：深圳精智达技术股份有限公司
摘要：本申请公开了一种显示屏Demura流程中Gamma侦测的方法、装置和存储介质，用于通过相机实现在Demura流程中的Gamma值自动侦测，提高侦测速度和整体效率。本申请方法包括：通过相机采集标定显示屏在最大灰阶下所显示的画面的第一图像；根据任一目标灰度确定相机的曝光时间，分别采集至少两个第二图像，计算其中心区域的灰度均值；根据相机的曝光时间和灰度均值进行拟合，生成相机在当前工作条件下的亮度模型；在Demura流程中，通过相机采集待测显示屏在预设灰阶下显示的画面的第三图像，并记录采集曝光时间，计算第三图像的中心区域的灰度均值；根据采集曝光时间、第三图像的中心区域的灰度均值和亮度模型计算Gamma值。
主权项：1.一种显示屏Demura流程中Gamma侦测的方法，其特征在于，包括：通过相机采集标定显示屏在最大灰阶下所显示的画面的第一图像，并获取所述第一图像的第一图像数据；设置至少两个所述相机待采集的第二图像对应的目标灰度，根据任一所述目标灰度确定所述相机的曝光时间；根据所述相机对应的曝光时间分别采集至少两个所述第二图像，并获取每一所述第二图像的第二图像数据；根据所述第二图像数据分别计算每一所述第二图像的中心区域的灰度均值；根据所述相机的曝光时间和所述灰度均值进行拟合，生成所述相机在当前工作条件下的亮度模型；在Demura流程中，通过所述相机采集待测显示屏在预设灰阶下显示的画面的第三图像，并记录采集曝光时间；获取所述第三图像的第三图像数据，根据所述第三图像数据计算所述第三图像的中心区域的灰度均值；根据所述采集曝光时间、所述第三图像的中心区域的灰度均值和所述亮度模型计算所述待测显示屏在预设灰阶下显示的所述画面的中心区域的Gamma值。
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权利要求：
百度查询： 深圳精智达技术股份有限公司 一种显示屏Demura流程中Gamma侦测的方法、装置和存储介质
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