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申请/专利权人：北京海洋兴业科技股份有限公司
摘要：本公开提出了一种FlexRay总线物理层测试方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：物理层线缆测试方法，该物理层线缆测试方法具体包括：获取物理层线缆上各采样点的阻抗值；基于各采样点的阻抗值，计算各采样点对应的一阶导数和一阶导数模值；基于各采样点对应的一阶导数和一阶导数模值，计算物理层线缆的长度、阻抗最大值、阻抗最小值、阻抗方差和阻抗最大不连续点中的至一种参数。通过本公开的方法可以实现对FlexRay总线物理层的自动测试，从而提高FlexRay总线物理层的测试效率。
主权项：1.一种FlexRay总线物理层测试方法，其特征在于，包括物理层线缆测试方法：所述物理层线缆的测试方法包括：获取物理层线缆上各采样点的阻抗值；基于各采样点的阻抗值，计算各采样点对应的一阶导数和一阶导数模值；基于各采样点对应的一阶导数和一阶导数模值，计算所述物理层线缆的长度、阻抗最大值、阻抗最小值、阻抗方差和阻抗最大不连续点中的至一种参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京海洋兴业科技股份有限公司 FlexRay总线物理层测试方法、装置、设备和存储介质
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