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申请/专利权人:北京华大九天科技股份有限公司
摘要:本申请公开一种基于整数约束将集成电路物理版图中非45°斜边修复为45°斜边的方法及电子设备,其包括:对每个封闭图形进行分割,以确定每个封闭图形的最长连续斜边链;针对每条最长连续斜边链上的所有顶点,确定每个顶点的有效活动范围:基于构建的整数约束关系,根据每个顶点的有效活动范围,确定出该每个顶点的潜在调整坐标;根据该每个顶点的潜在调整坐标,确定该每个顶点的候选调整坐标;对所有顶点的候选调整坐标按照第二方向进行依次回溯计算,得到每个顶点的有效调整坐标;对所有顶点的有效调整坐标进行逆变换,得到每个顶点的修复后顶点坐标,以将每条最长连续斜边链上的非45°斜边修复为45°斜边。
主权项:1.一种集成电路物理版图中将非45°斜边修复为45°斜边的方法,其特征在于,包括:确定需要进行斜边修复的图形层以作为输入图像层;针对述输入图像层上的每一顶点,确定连通该每一顶点的所有封闭图形,对每个封闭图形进行分割,以确定每个封闭图形的最长连续斜边链;针对每条最长连续斜边链上的所有顶点,确定每个顶点的有效活动范围:针对每个顶点的有效活动范围,执行以下步骤,以将每条最长连续斜边链上的非45°斜边修复为45°斜边:基于构建的整数约束关系,根据每个顶点的有效活动范围,确定出该每个顶点的潜在调整坐标;根据该每个顶点的潜在调整坐标,确定该每个顶点的候选调整坐标;对所有顶点的候选调整坐标按照第二方向进行依次回溯计算,得到每个顶点的有效调整坐标;对所有顶点的有效调整坐标进行逆变换,得到每个顶点的修复后顶点坐标,以将每条最长连续斜边链上的非45°斜边修复为45°斜边。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京华大九天科技股份有限公司 一种基于整数约束将集成电路物理版图中非45°斜边修复为45°斜边的方法及电子设备
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