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申请/专利权人：上海研鼎信息技术有限公司

摘要：本申请的目的是提供一种斜边MTF测试优化方法及设备，本申请通过步骤一、从待分析的目标对象中选取到包含斜边数据的分析块；步骤二、对包含斜边数据的分析块进行两侧分别降噪处理，得到降噪处理后的斜边数据；步骤三、采用OECF曲线对降噪处理后的斜边数据进行线性化处理；步骤四、计算线性化处理后的斜边数据的斜率，并按斜率的方向对所述线性化处理后的数据进行投影处理；步骤五、投影过的数据得到ESF并计算LSF后，依序做汉明窗处理和DFT处理；步骤六、对DFT处理后的数据进行局部优化平滑后输出，针对图像噪声，在斜边块两侧根据斜率分布分区域进行去除噪声处理，减少噪声对分析结果造成的偏差，使得评估MTF曲线更加精确。

主权项：1.一种斜边MTF测试优化方法，其中，所述方法包括：步骤一、从待分析的目标对象中选取到包含斜边数据的分析块；步骤二、对包含斜边数据的分析块进行两侧分别降噪处理，得到降噪处理后的斜边数据；步骤三、采用光电转换函数OECF曲线对所述降噪处理后的斜边数据进行线性化处理；步骤四、计算线性化处理后的斜边数据的斜率，并按所述斜率的方向对所述线性化处理后的数据进行投影处理；步骤五、投影过的数据得到边缘扩展函数ESF，并计算线扩展函数LSF后，依序做汉明窗处理和离散傅里叶变换DFT处理；步骤六、对DFT处理后的数据进行局部优化平滑后输出；其中，若所述目标对象为待分析图片，其中，所述步骤二、对包含斜边数据的分析块进行两侧分别降噪处理，得到降噪处理后的斜边数据，包括：对包含斜边数据的分析块进行两侧区分，分别得到第一侧分析区域和第二侧分析区域；分别对第一侧分析区域和第二侧分析区域进行噪声计算，得到第一侧分析区域的第一噪声值Na和第二侧分析区域的第二噪声值Nb；将包含斜边数据的分析块中的第一侧分析区域去除所述第一噪声值Na和第二侧分析区域去除所述第二噪声值Nb，以得到降噪处理后的斜边数据；其中，所述第一侧分析区域的第一噪声值Na的计算公式为： 其中，gi为第一侧分析区域中的单个像素点的灰度值，n为第一侧分析区域中的像素点的总个数；ga_ave为第一侧分析区域中的所有像素点的平均灰度值，ga_ave的计算公式为： 其中，所述第二侧分析区域的第二噪声值Nb的计算公式为： 其中，gj为第二侧分析区域中的单个像素点的灰度值，m为第二侧分析区域中的像素点的总个数；gb_ave为第二侧分析区域中的所有像素点的平均灰度值，gb_ave的计算公式为：

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