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申请/专利权人:西安乾景防务技术有限公司
摘要:本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种用于快速拆装便携吸盘的表面缺陷检测方法,包括:采集吸盘表面灰度图;根据吸盘表面灰度图中像素点的灰度值,获取二级连通域;根据二级连通域最外侧的像素点,获取疑似缺陷连通域;根据疑似缺陷连通域内部像素点的灰度值,获取疑似缺陷连通域的缺陷程度;根据疑似缺陷连通域的缺陷程度,获取缺陷区域。本发明通过分析吸盘材质所具有的特性,对吸盘表面的脏污区域与缺陷区域进行准确区分,以此达到提高识别吸盘中的缺陷区域准确性的目的。
主权项:1.一种用于快速拆装便携吸盘的表面缺陷检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:采集吸盘表面灰度图;根据吸盘表面灰度图中像素点的灰度值,获取二级连通域;根据二级连通域最外侧的像素点,获取二级连通域的疑似缺陷程度;根据二级连通域的疑似缺陷程度,获取疑似缺陷连通域;对每个疑似缺陷连通域进行分层,得到每个疑似缺陷连通域的若干层区域;获取疑似缺陷连通域中每个像素点的局部像素点;根据疑似缺陷连通域的若干层区域、疑似缺陷连通域中每个像素点的局部像素点以及疑似缺陷连通域中每个像素点,获取疑似缺陷连通域的缺陷程度;根据疑似缺陷连通域的缺陷程度,获取缺陷区域;所述根据二级连通域最外侧的像素点,获取二级连通域的疑似缺陷程度,包括的具体方法为:对于第个二级连通域;利用旋转卡壳算法获取第个二级连通域的最小外接矩形;以吸盘表面灰度图中最左下角的像素点为原点,水平向右方向为轴正方向,竖直向上方向为轴正方向,构建直角坐标系,将第个二级连通域最外侧的像素点作为第个二级连通域的特征像素点;根据第个二级连通域的所有特征像素点在直角坐标系中的斜率、第个二级连通域的最小外接矩形的长与宽,获取第个二级连通域的疑似缺陷程度;所述获取第个二级连通域的疑似缺陷程度的具体计算公式为: 式中,表示第个二级连通域的疑似缺陷程度;表示第个二级连通域的最小外接矩形的宽;表示第个二级连通域的最小外接矩形的长;表示第个二级连通域的特征像素点数量;表示第个二级连通域的第个特征像素点在直角坐标系中的斜率;表示第个二级连通域的第个特征像素点在直角坐标系中的斜率;表示绝对值运算;表示以自然常数为底数的指数函数。
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