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可测试性设计的适应性微电子电路的应用 

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申请/专利权人:米尼码处理器公司

摘要:可藉由让运作参数假定运作参数数值而配置微电子电路的效能。运作方法包含选择性设定该微电子电路进入与该微电子电路的正常运作模式不同的测试模式、以及利用该测试模式输入由测试输入数值所组成的测试输入信号进入该微电子电路内的一个或更多个适应性处理路径。适应性处理路径包含处理逻辑和缓存器电路,处理逻辑和缓存器电路配置成从输入至处理逻辑和缓存器电路的输入数值产生输出数值。这种适应性处理路径的效能可藉由让运作参数假定运作参数数值而加以配置。该方法包含让该一个或更多个适应性处理路径根据输入至它们的个别测试输入数值形成测试输出数值、以及藉由收集由该一个或更多个适应性处理路径所给定的该测试输出数值形成一组测试输出信号。该方法包含检查该组测试输出信号、以及根据该检查形成测试结果、以及使用该测试结果以选择和设定用于该运作参数的运作参数数值。

主权项:1.一种用于运作适应性微电子电路的方法,该适应性微电子电路的效能由让运作参数假定运作参数数值而加以配置,该方法包含:选择性设定所述微电子电路进入测试模式,所述测试模式不同于所述微电子电路的正常运作模式,利用所述测试模式输入由测试输入数值所组成的测试输入信号进入所述微电子电路内的一个或更多个适应性处理路径,其中,适应性处理路径包含处理逻辑和缓存器电路,所述处理逻辑和所述缓存器电路被配置成从输入至所述处理逻辑和所述缓存器电路的输入数值产生输出数值,并且其中,这种适应性处理路径的效能由让运作参数假定运作参数数值而加以配置,让所述一个或更多个适应性处理路径根据输入至它们的相应测试输入数值形成测试输出数值,并且藉由收集由所述一个或更多个适应性处理路径所给定的所述测试输出数值形成一组测试输出信号,检查所述一组测试输出信号,并且根据所述检查形成测试结果,以及使用所述测试结果来选择和设定用于所述运作参数的运作参数数值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 米尼码处理器公司 可测试性设计的适应性微电子电路的应用

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