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申请/专利权人：上海辉电智能科技股份有限公司
摘要：本实用新型公开了一种基于光开关的自动倒换时间测量装置，包括控制电路及光开关；所述控制电路包括芯片K1，其1脚连接电阻R1一端，电阻R1另一端连接VCC，芯片K1的2脚连接GND，芯片K1的3脚连接GND；熔断器F1一端连接电阻R1另一端，熔断器F1另一端连接USB连接器；电容C1一端连接R1一端，另一端连接GND；轻触开关SW1的一侧连接GND，轻触开关另一侧连接电容C1一端；电阻R2一端连接芯片K1的4脚，电阻R2另一端连接VCC；其中，芯片K1的4脚连接光开关，光开关的两端分别连接光纤。本实用新型使用光开光代替人工断纤测试，提高工作效率。降低人工断纤引入的断纤时间不等、光纤损坏等不利因素。
主权项：1.一种基于光开关的自动倒换时间测量装置，其特征在于，包括控制电路及光开关；所述控制电路包括芯片K1，其1脚连接电阻R1一端，电阻R1另一端连接VCC，芯片K1的2脚连接GND，芯片K1的3脚连接GND；熔断器F1一端连接电阻R1另一端，熔断器F1另一端连接USB连接器；电容C1一端连接R1一端，另一端连接GND；轻触开关SW1的一侧连接GND，轻触开关另一侧连接电容C1一端；电阻R2一端连接芯片K1的4脚，电阻R2另一端连接VCC；芯片K1的4脚连接光开关，光开关的两端分别连接光纤。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海辉电智能科技股份有限公司 基于光开关的自动倒换时间测量装置
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