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一种HfO2基薄膜及其制备方法 

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申请/专利权人:中南大学

摘要:本发明涉及一种HfO2基薄膜及其制备方法,包括基底,所述基底上设有金属W层,所述金属W层上覆盖有Hf0.5Zr0.5O2薄膜,所述Hf0.5Zr0.5O2薄膜上覆盖有ZrO2薄膜。其制备方法包括如下步骤:在基底上沉积金属W层;再在金属W层上沉积Hf0.5Zr0.5O2薄膜;然后在Hf0.5Zr0.5O2薄膜上沉积ZrO2薄膜,获得HfO2基无定形薄膜后,于保护气氛或真空条件下退火处理后,获得HfO2基薄膜成品。本发明有效解决了HfO2薄膜介电常数与剩余极化值相矛盾的问题。

主权项:1.一种HfO2基薄膜,包括基底,其特征在于,所述基底上设有金属W层,所述金属W层上覆盖有Hf0.5Zr0.5O2薄膜,所述Hf0.5Zr0.5O2薄膜上覆盖有ZrO2薄膜,在金属W层上形成双层薄膜结构;Hf0.5Zr0.5O2薄膜的厚度为4.5nm或者6-15nm;ZrO2薄膜的厚度为3-10.5nm。

全文数据:

权利要求:

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