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申请/专利权人：深圳市度申科技有限公司

摘要：本发明涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种面阵相机多适应性高级平场校正方法，包括，基础图像的通道选择、像素点的采样处理、采样点的三元结构数据储存，确定拟合曲面的三元四次方程，确定方程并计算拟合亮度值，与坐标处的平场校正增益值。本发明只需要拍一张图片即可导出平场系数并生成平场，只需要采样时遵循亮度区间小设置的最小亮度差值进行判断，且保障中央和四周采样点的分布即可，操作更加简洁方便；同时一张图像只需对应一个平场校正函数，在图像分辨率非常大的情况下，节省不少计算时间，并且无需每个像素点关联一个函数，导致的结果的效果受光源环境干扰程度较大，适应性低，因此提高了，平场校正的全适应性。

主权项：1.一种面阵相机多适应性高级平场校正方法，其特征在于，包括，步骤S1，使用相机拍摄一张基础图像，并对所述基础图像进行判定，根据基础图像类型选择处理通道；步骤S2，根据预设采样点数与中心采样比，确定预设中心采样点数与预设边缘采样点数，根据设置标准分解距离判定采样位置与基础图像中心的距离，判定采样处为中心区域或是边缘区域，设置最小亮度差值确定采样处位置的亮度差值与各已采样点的亮度差值，确定是否选取采样处的点为中心采样点或边缘采样点；在所述步骤S2中，设置预设采样点数与中心采样比，将预设采样点数与中心采样比相乘，得到预设中心采样点数，并将预设采样点数与预设中心采样点数做差，得到预设边缘采样点数；设置标准分解距离，在对基础图像进行采样点的采样时，随机选取任意一图像点为初采样点，并计算初采样点距离基础图像中心点之间的距离记为实时采样距离，根据标准分解距离对实时采样距离进行判定，若实时采样距离小于等于标准分解距离，则判定初采样点为中心采样点，并根据基础图像中心区域已采样的采样点的数量对初采样点进行判断，以确定是否保留该初采样点；若实时采样距离大于标准分解距离，则判定初采样点为边缘采样点，并根据基础图像边缘区域已采样的采样点的数量对初采样点进行判断，以确定是否保留该初采样点，并将更改标记为边缘采样点；在确定初采样点为中心采样点时，获取基础图像中心区域已采样的采样点的数量，并根据预设中心采样点数对基础图像中心区域已采样的采样点的数量进行判定，若基础图像中心区域已采样的采样点的数量等于预设中心采样点数，则删除该初采样点，并在基础图像上随机选取另一图像点为下一初采样点进行判定；若基础图像中心区域已采样的采样点的数量小于预设中心采样点数，则根据各已采样的中心采样点的亮度值确定是否保留该初采样点；在确定初采样点为边缘采样点时，获取基础图像边缘区域已采样的采样点的数量，并根据预设边缘采样点数对基础图像边缘区域已采样的采样点的数量进行判定，若基础图像边缘区域已采样的采样点的数量等于预设边缘采样点数，则删除该初采样点，并在基础图像上随机选取另一图像点为下一初采样点进行判定；若基础图像边缘区域已采样的采样点的数量小于预设边缘采样点数，则根据各已采样的边缘采样点的亮度值确定是否保留该初采样点；直至基础图像边缘区域与中心区域的已采样的采样点的数量均等于预设中心采样点数与预设边缘采样点数时，采样完成停止采样；在所述步骤S2中，设置最小亮度差值，在根据各已采样的边缘采样点或中心采样点的亮度值确定是否保留该初采样点时，获取各已采样的边缘采样点或中心采样点亮度值，并获取初采样点的亮度值，若初采样点为中心采样点，则将该初采样点的亮度值依次与各已采样的中心采样点亮度值进行做差，若初采样点为边缘采样点，则将该初采样点的亮度值依次与各已采样的边缘采样点亮度值进行做差，得到若干实时采样亮度差值，将各实时采样亮度差值与最小亮度差值进行对比，若各实时采样亮度差值均大于等于最小亮度差值，则选取该初采样点为对应的中心采样点或边缘采样点；若各实时采样亮度差值中存在任意一亮度差值小于最小亮度差值，则删除该初采样点，并在基础图像上随机选取另一图像点为下一初采样点进行判定，直至完成各中心采样点与各边缘采样点的采样；步骤S3，将采样后的像素以三元结构进行存储，若基础图像为单通道灰度图像，采样像素位置处单通道的灰度值；若基础图像为三通道彩色，则分别存储采样像素位置处的三个通道的灰度值；在所述步骤S3中，将采样后的像素以三元结构进行存储X,Y,Z,其中，X表示像素点的X像素坐标，Y表示像素点的Y像素坐标，Z表示像素点的灰度值；若基础图像为单通道灰度图像，存储X，Y位置处，单通道的灰度值；若基础图像为三通道彩色图像，则分别存储X，Y位置处三个通道的灰度值；即三通道图像像素值为R，G，B，以X,Y,R,X,Y,G,X,Y,B三元结构存储；步骤S4，通过得到的采样点三元结构数据，拟合三维空间下的曲面使各采样点的值拟合至该曲面，并计算该曲面方程的三元四次方程；步骤S5，将采样点代入方程求出系数值，确定方程，采用最小二乘法，构造矩阵；步骤S6，选取一个常量，表示平场校正后的期望亮度值，把采样像素位置处坐标代入到拟合曲面方程的三元四次方程中求出拟合亮度值，与坐标处的平场校正增益值，并对图像每个坐标的像素值与校正增益值相乘并应用，得到最终的平场图像。

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