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申请/专利权人：珠海泰芯半导体有限公司
摘要：本发明公开一种芯片FT测试系统以及测试方法，涉及芯片FT测试技术领域；所述测试系统包括自动测试设备ATE、待测芯片，所述待测芯片具有测试端口；其特征在于，还包括主机；所述主机存储有芯片测试用的全部测试pattern；所述主机通过所述测试端口传送测试pattern给所述待测芯片；所述自动测试设备ATE与所述主机通信连接，所述自动测试设备与所述待测芯片通信连接。芯片FT测试系统及测试方法，通过引入了主机、自动测试设备ATE以及待测芯片三方的交互，使得在测试pattern的传输过程，仅利用了芯片的测试端口即可，最大限度的让芯片的其他端口引脚得到开发利用。
主权项：1.一种芯片FT测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、预先将待测芯片的所有测试pattern烧写到主机的内存中；S2、建立所述主机与所述待测芯片的通信连接，然后所述主机锁定待测芯片的CPU；S3、所述主机接收自动测试设备ATE的一个测试指令；S4、所述主机判断所述测试指令是否实施过测试，如果该测试指令没有实施过测试，则执行下一步；如果实施过测试，则继续执行步骤S3；S5、所述主机将测试指令所对应的测试pattern通过所述待测芯片的所述测试端口传送至所述待测芯片的内存中，然后所述主机释放所述待测芯片的CPU；S6、所述待测芯片开始运行测试pattern以实施测试；其中，锁定所述待测芯片的CPU是为了将与所述主机交互的测试总线控制权交给主机，主机可以按照自己的总线行为执行写测试pattern到所述待测芯片的内存；所述主机控制总线写完测试pattern后，需要释放待测芯片的CPU，释放所述待测芯片的CPU后，所述待测芯片会自动运行内存中的测试pattern，从而完成测试；其中，所述主机预先存储测试指令与测试pattern地址信息以及测试pattern的长度信息的映射，其中测试pattern地址信息指的是主机的内存中存储的地址；所述主机收到测试指令后，对测试指令进行解析，将所述测试指令转换成相应的测试pattern的地址信息及测试pattern长度信息；所述主机根据地址信息、长度信息发送数据给所述待测芯片。
全文数据：
权利要求：
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