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申请/专利权人：西安芯云半导体技术有限公司
摘要：本实用新型涉及一种信号测试装置和系统，涉及信号测试技术领域，信号测试装置包括母座、连接模块、信号触发模块和测试模块，测试模块和信号触发模块分别通过连接模块与母座连接，信号触发模块，用于在待测PCIE设备插置于母座上时，通过连接模块、母座向待测PCIE设备发送触发信号，以使待测PCIE设备通过母座、连接模块向测试模块传输TX信号，测试模块，用于对TX信号进行信号测试，得到信号测试结果。本实用新型中的信号测试装置能够不依赖主板对TX信号进行信号测试，降低了测试难度和测试成本，提高了检测效率和检测准确度。
主权项：1.一种信号测试装置，其特征在于，所述信号测试装置包括母座、连接模块、信号触发模块和测试模块；所述测试模块和所述信号触发模块分别通过所述连接模块与所述母座连接；所述信号触发模块，用于在待测PCIE设备插置于所述母座上时，通过所述连接模块、所述母座向所述待测PCIE设备发送触发信号，以使所述待测PCIE设备通过所述母座、所述连接模块向所述测试模块传输TX信号；所述测试模块，用于对所述TX信号进行信号测试，得到信号测试结果。
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百度查询： 西安芯云半导体技术有限公司 信号测试装置和系统
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