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申请/专利权人：粒子监测系统有限公司
摘要：提供了粒子分析仪和用于验证粒子分析仪的校准状态的相关方法，包括独立于粒子的存在或不存在。该方法和分析仪包括使用不同且非干扰的时频域：中频时域和低频时域，以及可选地高频时域。高频时域产生激光刻面驱动电流频率调制，以防止激光刻面空间跳模。中频时域用于粒子检测。低频时域用于校准状态，包括激光‑脉冲‑光自诊断，用于分析仪的健康或校准状态。通过仔细选择频率时域范围，不存在干扰，具有与粒子无关的自诊断仪器的能力。
主权项：1.一种用于独立于粒子确定光学粒子分析仪的校准状态的方法，所述方法包括以下步骤：提供光学粒子分析仪，所述光学粒子分析仪包括：电磁辐射源，即EMR源，用于产生EMR的射束；腔室，用于容纳样品介质并用于接收所述EMR的射束；光学组件，所述光学组件与所述EMR源光学连通，用于将所述EMR的射束从所述EMR源引导到所述腔室；检测器，用于检测来自所述EMR的射束的散射辐射；光学收集系统，用于将来自所述腔室的所述EMR的射束的所述散射辐射引导到所述检测器；调制施加到所述EMR源的功率；响应于调制步骤，诱发具有低频时域的检测器信号波形；分析所述检测器信号波形以确定与所述EMR源、所述光学组件、所述腔室、所述检测器和所述光学收集系统中的一个或多个相关联的至少一个诊断参数的值；基于所述至少一个诊断参数的一个或多个确定的值来确定所述光学粒子分析仪的所述校准状态；其中，对于存在于所述光学粒子分析仪中的一个或多个粒子，并且响应于调制施加到所述EMR源的功率的步骤，生成具有高于所述低频时域的中频时域的粒子检测信号，从而避免检测器信号的所述低频时域与所述粒子检测信号的所述中频时域之间的不期望的干扰；从而独立于粒子确定所述光学粒子分析仪的所述校准状态。
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权利要求：
百度查询： 粒子监测系统有限公司 光学粒子分析仪的校准验证
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