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一种芯片测试分选归类方法、系统及生产线 

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申请/专利权人:珠海凌烟阁芯片科技有限公司

摘要:本发明公开了一种芯片测试分选归类方法、系统及生产线,采用测试机在对被测芯片进行测试得到对应被测芯片的料别后,通过测试机对测试完成后的被测芯片进行分选并根据被测芯片的料别进行打标标识。当从分选机中取出批量的测试完成的被测芯片后,将批次量的被测芯片完成测试归类后转移至扫脚站点,并可以采用扫脚机进一步对被测芯片打标得到的目标标识进行判定,将不属于同一料别的被测芯片筛选剔除,从而可以避免在将被测芯片进行集中处理时因人为操作造成的混料情形。

主权项:1.一种芯片测试分选归类方法,其特征在于,包括:测试机对被测芯片进行测试并对被测芯片的料别进行判定;分选机根据被测芯片的料别判定结果对被测芯片进行打标标识,并对被测芯片进行归类,将归类后的被测芯片摆放至目标料盘;其中,每一被测芯片具有对应料别的目标标识;将批次量的被测芯片完成测试归类后转移至扫脚站点,通过扫脚机进行目标标识判别,并将不符合目标料别的被测芯片筛选剔除。

全文数据:

权利要求:

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