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一种用于芯片研磨切片断面分析的灌胶装置及其方法 

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申请/专利权人:浙江芯植微电子科技有限公司

摘要:本发明涉及半导体器件技术领域,具体公开了一种用于芯片研磨切片断面分析的灌胶装置及其方法,包括支撑架、树脂膜和灌胶模具,所述树脂膜通过抽拉结构间歇式输送于支撑架内,所述树脂膜侧壁设置有多个呈阵列分布的通孔,所述树脂膜的水平输送段顶端安装有多个芯片本体,所述灌胶模具呈分体设置且位于树脂膜的两侧,所述灌胶模具包括管件相同的灌胶筒和灌胶管,所述灌胶筒固定安装于支撑架的底壁,所述灌胶筒和灌胶管分别位于树脂膜两侧,所述灌胶筒的底端设置有环齿片。本发明实现了树脂胶对芯片的完全式包裹,降低了芯片研磨过程中崩落的可能性,提高了灌注效率,芯片平装于树脂胶内,方便手持和研磨。

主权项:1.一种用于芯片研磨切片断面分析的灌胶装置,包括支撑架(1)、树脂膜(2)和灌胶模具,其特征在于:所述树脂膜(2)通过抽拉结构间歇式输送于支撑架(1)内,所述树脂膜(2)侧壁设置有多个呈阵列分布的通孔(206),所述树脂膜(2)的水平输送段顶端安装有多个芯片本体(3),所述灌胶模具呈分体设置且位于树脂膜(2)的两侧;所述灌胶模具包括管件相同的灌胶筒(4)和灌胶管(5),所述灌胶筒(4)固定安装于支撑架(1)的底壁,所述灌胶筒(4)和灌胶管(5)分别位于树脂膜(2)两侧,所述灌胶筒(4)的底端设置有环齿片(6),所述灌胶管(5)的顶端设置有与环齿片(6)相匹配的齿槽,所述灌胶筒(4)和灌胶管(5)的侧壁均设置有树脂胶灌注口(7),所述支撑架(1)内设置有用于驱动灌胶管(5)升降的驱动机构。

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