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摘要:本发明涉及使用分析型超速离心AUC测定纳米级系统NSS的理化性质的方法,包括以下步骤:生成与感兴趣的NSS相关的多维沉降分析图;选择样品相关参数;测定样品中沉降系数值参数;将样本沉降系数值插入多维沉降分析图以获得NSS样品的映射值;以及从NSS样品的映射值推断NSS样品的理化性质。此外,本发明涉及用于执行该方法的系统、计算机程序产品和计算机可读存储介质。
主权项:1.使用分析型超速离心AUC测定纳米级系统NSS的理化性质的方法,包括以下步骤:a生成与感兴趣的NSS相关的多维沉降分析图;b选择样品相关参数;c测定样品中沉降系数值或参数;d将样品的沉降系数值插入多维沉降分析图以获得NSS样品的映射值;e从NSS样品的映射值推断NSS样品的理化性质;其中,所述沉降系数值来自对AUC实验中沉降边界移动的移动速率的测量;和其中,生成多维沉降分析图包括以下步骤:选择代表感兴趣的NSS的参数;以及利用NSS和任何单一的NSS组分的AUC的沉降系数值或参数或浓度系列来生成多维沉降分析图。
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权利要求:
百度查询: 斯玛特迪利弗利有限责任公司 测定纳米级系统(NSS)的理化性质的方法
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