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申请/专利权人：斯玛特迪利弗利有限责任公司
摘要：本发明涉及使用分析型超速离心AUC测定纳米级系统NSS的理化性质的方法，包括以下步骤：生成与感兴趣的NSS相关的多维沉降分析图；选择样品相关参数；测定样品中沉降系数值参数；将样本沉降系数值插入多维沉降分析图以获得NSS样品的映射值；以及从NSS样品的映射值推断NSS样品的理化性质。此外，本发明涉及用于执行该方法的系统、计算机程序产品和计算机可读存储介质。
主权项：1.使用分析型超速离心AUC测定纳米级系统NSS的理化性质的方法，包括以下步骤：a生成与感兴趣的NSS相关的多维沉降分析图；b选择样品相关参数；c测定样品中沉降系数值或参数；d将样品的沉降系数值插入多维沉降分析图以获得NSS样品的映射值；e从NSS样品的映射值推断NSS样品的理化性质；其中，所述沉降系数值来自对AUC实验中沉降边界移动的移动速率的测量；和其中，生成多维沉降分析图包括以下步骤：选择代表感兴趣的NSS的参数；以及利用NSS和任何单一的NSS组分的AUC的沉降系数值或参数或浓度系列来生成多维沉降分析图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 斯玛特迪利弗利有限责任公司 测定纳米级系统(NSS)的理化性质的方法
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