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申请/专利权人：中山大学
摘要：本发明公开了一种基于有限元和光流法的框架结构全场位移和转角测量方法，包括：对目标结构图像进行单元剖分，确定位移边界条件；根据光流法和有限元理论，确定目标结构图像中各个单元内的各像素点的图像位移与对应单元结点位移之间的第一关系式；通过单元坐标变换矩阵和组装矩阵，将各单元在整体坐标下的结点位移向量组装为结构整体结点位移向量，并确定在任意给定时间下，各像素点图像位移与结构整体结点位移之间的向量关系式；对向量关系式进行求解，对结构整体自由度时域位移进行频域分解，得到结构模态参数，完成对目标结构的全场位移和转角测量。本发明将有限元与光流法相结合，提高了识别精度，可广泛应用于计算机技术领域。
主权项：1.一种基于有限元和光流法的框架结构全场位移和转角测量方法，其特征在于，包括：对目标结构图像进行单元剖分，确定位移边界条件；根据光流法和有限元理论，对所述目标结构图像中各个单元内的各像素点，确定各像素点的图像位移与对应单元结点位移之间的第一关系式；通过单元坐标变换矩阵和组装矩阵，将各单元在整体坐标下的结点位移向量组装为结构整体结点位移向量，并根据所述第一关系式，确定在任意给定时间下，各像素点图像位移与结构整体结点位移之间的向量关系式；根据最小二乘法对方程组对所述向量关系式进行求解，得到所有时间下目标结构的整体结点位移向量；根据所述整体结点位移向量，对结构整体自由度时域位移进行频域分解，得到结构模态参数，完成对所述目标结构的全场位移和转角测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中山大学 基于有限元和光流法的框架结构全场位移和转角测量方法
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