龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：哈尔滨理工大学
摘要：一种完备几何位相元件表征方法及装置，涉及光学与微纳光子学技术领域，用以解决现有技术无法获取精确空间变取向液晶的延迟和光轴角度问题。所述方法包括：将入射光场偏振状态固定为圆偏振态，入射至待测样品表面；样品表面由成像系统被成像至偏振光栅，偏振光栅后接成像系统成像至光学相机表面；准备定角度四分之一波片完成stokes偏振层析；采集偏振层析的六个分量，命名为IH、IV、ID、IA、IR及IL；根据给出的公式利用计算软件例如matalb解算出待测样品延迟分布及二维空间变取向角度αx,y。本发明能够高效解决目前没有获取液晶光轴角度以及延迟的瓶颈问题。其显著优点是：以搭建低成本的成像系统为实验手段，配合偏振光栅和波片，精准、高效测得样品延迟，重构液晶样品的二维取向角分布。
主权项：1.一种完备几何位相元件表征方法及装置，其特征在于，所述方法包括步骤：将入射光场偏振状态设定为圆偏振态，入射至待测样品表面；样品表面由成像系统被成像至偏振光栅，偏振光栅后接成像系统成像至光学相机表面；准备定角度四分之一波片完成stokes偏振层析；采集偏振层析的六个分量，命名为IH、IV、ID、IA、IR及IL；利用计算软件解算出待测样品延迟分布的δx，y及二维空间变取向角度αx，y。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 哈尔滨理工大学 一种完备几何位相元件表征方法及装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号