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申请/专利权人：中国科学院半导体研究所
摘要：本公开提供一种光电探测器和电光强度调制器频率响应的测量装置和方法，测量装置包括：激光器；第一耦合器将光载波分为第一光信号和第二光信号；第一调制单元接收第一光信号，经过调制后得到第一载波单边带光信号；第二调制单元接收第二光信号，经过调制后得到第二载波单边带光信号；第二耦合器将第一载波单边带光信号和第二载波单边带光信号合束得到第三光信号；电光强度调制器将扫频微波电信号调制到第三光信号上，产生多个扫频光边带信号；光电探测器将多个扫频光边带信号之间互相拍频产生频率分量；频谱分析仪测量频率分量的功率，计算光电探测器在频率分量的频率响应得到光电探测器的频率响应曲线和电光强度调制器的频率响应曲线。
主权项：1.一种光电探测器和电光强度调制器频率响应的测量装置，包括：激光器，被构造成产生光载波；第一耦合器，被构造成接收所述光载波并将所述光载波分为第一光信号和第二光信号；第一调制单元，被构造成接收所述第一光信号，经过调制后得到第一载波单边带光信号；第二调制单元，被构造成接收所述第二光信号，经过调制后得到第二载波单边带光信号；第二耦合器，被构造成将所述第一载波单边带光信号和所述第二载波单边带光信号合束得到第三光信号；电光强度调制器，被构造成将扫频微波电信号调制到所述第三光信号上，产生多个扫频光边带信号；光电探测器，被构造成将所述多个扫频光边带信号之间互相拍频产生频率分量；以及频谱分析仪，被构造成测量所述频率分量的功率，计算所述光电探测器在所述频率分量的频率响应得到所述光电探测器的频率响应曲线和所述电光强度调制器的频率响应曲线。
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百度查询： 中国科学院半导体研究所 光电探测器和电光强度调制器频率响应的测量装置和方法
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