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申请/专利权人:杭州中安电子股份有限公司
摘要:本发明涉及一种芯片测试设备及测试方法,测试方法包括以下步骤:判断是否为散料芯片,若是,则对料盘中的所有芯片进行识别,确定芯片摆放方向,判读各所述芯片的摆放方向是否正确;将料盘中摆放方向正确的芯片和摆放方向错误的芯片进行分离,仅对摆放方向正确的芯片进行测试;将摆放方向错误的芯片重新上料至另一料盘;重复上述步骤,直至将所有芯片测试完成。设备包括料盘移动装置、识别相机、IC测试装置、老化板测试安装装置、芯片编带装置、芯片搬运装置,通过各装置之间的配合实现芯片的测试。本发明能够解决散料芯片在测试之前摆放方向不稳定的问题,使得参加测试的芯片均是摆放正确的芯片,从而保证芯片测试的稳定性和准确性。
主权项:1.一种芯片测试方法,其特征在于,包括以下步骤:判断是否为散料芯片,若是,则对料盘中的所有芯片进行识别,确定所有芯片的摆放方向,判读各所述芯片的摆放方向是否正确;将料盘中摆放方向正确的芯片和摆放方向错误的芯片进行分离,仅对摆放方向正确的芯片进行测试;发出提示,以将摆放方向错误的芯片重新混入芯片上料机构,重新上料至另一料盘;重复上述步骤,直至将所有芯片测试完成。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 杭州中安电子股份有限公司 一种芯片测试设备及测试方法
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