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检测电路运行速度的余量的装置 

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申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

摘要:本发明公开一种检测电路运行速度的余量的装置,该装置包含:一信号产生电路,用来产生一输入信号,该输入信号包含预设数据;一第一可调延迟电路,用来延迟该输入信号达一第一设定延迟量,以产生一延迟输入信号;一待测电路,用来执行一预定操作,以依据该延迟输入信号产生一待测信号,其中该预定操作是基于一预定操作时序;一第二可调延迟电路,用来延迟该待测信号达一第二设定延迟量,以产生一延迟待测信号;一比较电路,用来依据该预定操作时序比较该延迟待测信号所包含的数据与该预设数据,以产生一比较结果;以及一校正电路,用来依据该比较结果判断该待测电路是否通过一速度测试。

主权项:1.一种检测一电路运行速度的余量的装置,该装置包含:一信号产生电路,用来于一检测流程开始时产生一输入信号,该输入信号包含预设数据;一第一可调延迟电路,耦接该信号产生电路,用来于该检测流程下延迟该输入信号达一第一设定延迟量,以产生一延迟输入信号;一待测电路,耦接该第一可调延迟电路,用来于该检测流程开始后执行一预定操作,以依据该延迟输入信号产生一待测信号,其中该预定操作是基于一预定操作时序;一第二可调延迟电路,耦接该待测电路,用来于该检测流程下延迟该待测信号达一第二设定延迟量,以产生一延迟待测信号;一比较电路,耦接该第二可调延迟电路,用来于该检测流程下依据该预定操作时序比较该延迟待测信号所包含的数据与该预设数据,以产生一比较结果;以及一校正电路,耦接该比较电路,用来于该检测流程下依据该比较结果判断该待测电路是否通过一速度测试,其中该检测流程是一校正流程;该第二设定延迟量和该第一设定延迟量之一为一预定延迟量;该第二设定延迟量和该第一设定延迟量之另一为一可调延迟量;若该校正电路依据该比较结果判断该延迟待测信号所包含的数据同于该预设数据,该校正电路判断该待测电路通过该速度测试,并增加该可调延迟量,以及令该装置重新执行该校正流程;若该校正电路依据该比较结果判断该延迟待测信号所包含的数据异于该预设数据,该校正电路判断该待测电路未通过该速度测试,并决定该可调延迟量为该待测电路的一运行速度的余量。

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权利要求:

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