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申请/专利权人：盛泰光电科技股份有限公司
摘要：本发明公开了一种基于iToF的半自动曝光优化深度距离检测方法，包括：设置一组常规曝光组件和一组特别曝光组件；确定曝光修正函数、平移距离、最低IR参数值和最高IR参数值；采用常规曝光组件拍摄得到第一深度图像并计算IR强度值和深度距离值；如果深度距离大于平移距离则将第一深度图像作为输出图像；否则计算优化的曝光值，并采用特别曝光组件以优化的曝光值拍摄得到第二深度图像，并与第一深度图像进行融合后输出。本发明中，设置两组曝光组件并采用半自动曝光方法,用户在使用时不会感受到曝光切换,能够在不改变模组工作频率的情况下增加工作距离，具有较好的应用前景。
主权项：1.一种基于iToF的半自动曝光优化深度距离检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、设置一组常规曝光组件和一组特别曝光组件；所述常规曝光组件的曝光量为固定值，所述特别曝光组件的曝光量在预设范围内可调节；S2、确定曝光值关于IR强度值的函数作为曝光修正函数；S3、确定平移距离、最低IR参数值和最高IR参数值；S4、采用常规曝光组件进行曝光，并基于iToF拍摄得到第一深度图像，计算第一深度图像的IR强度值和深度距离值；如果第一深度图像的深度距离大于平移距离，则执行S5步骤；否则，执行S6步骤；S5、将第一深度图像作为输出图像；S6、根据常规曝光组件的曝光值、第一深度图像的IR强度值、曝光修正函数以及第一深度图像的IR强度值与最高IR参数值和最低IR参数值的大小关系计算优化后的曝光值；S7、采用特别曝光组件以优化后的曝光值进行曝光，并基于iToF拍摄得到第二深度图像；S8、将第一深度图像和第二深度图像进行融合，以融合得到的第三深度图像作为输出图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 盛泰光电科技股份有限公司 基于iToF的半自动曝光优化深度距离检测方法
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