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申请/专利权人：中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要：本申请涉及一种ATPG动态测试精简方法、装置、设备及计算机可读介质。该方法包括：初始化电路中所有潜在次要故障对应的失败惩罚因子和测试向量集；基于失败惩罚因子结合先验启发式规则确定各潜在次要故障的综合优先级，基于综合优先级确定当前次要故障；基于ATPG算法生成当前次要故障对应的测试向量，并判断测试向量生成结果；若测试向量生成成功，则将生成的测试向量添加至测试向量集中，同时更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤；若测试向量生成失败，则更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤，直至测试向量生成失败的次数达到失败次数阈值。本申请解决了ATPG动态测试精简方法自适应性低的问题。
主权项：1.一种ATPG动态测试精简方法，其特征在于，包括：初始化电路中所有潜在次要故障对应的失败惩罚因子和测试向量集，所述失败惩罚因子为测试向量生成的失败次数；基于所述失败惩罚因子结合先验启发式规则确定各潜在次要故障的综合优先级，基于所述综合优先级确定当前次要故障；基于ATPG算法生成所述当前次要故障对应的测试向量，并判断所述测试向量生成结果；若所述测试向量生成成功，则将生成的所述测试向量添加至测试向量集中，同时更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤；若所述测试向量生成失败，则更新所述当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤，直至测试向量生成失败的次数达到失败次数阈值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司 ATPG动态测试精简方法、装置、设备及计算机可读介质
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