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一种芯片检测用承载装置 

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申请/专利权人:深圳市钍地半导体有限公司

摘要:本实用新型公开了一种芯片检测用承载装置,属于芯片检测技术领域,其包括分流装置,分流装置的两侧固定连接有固定板,分流装置的上方设置有承载块,承载块的两侧固定连接在固定板内,承载块的两侧内滑动连接有夹持装置,承载块的两端滑动连接有稳定装置。该芯片检测用承载装置,当需要检测芯片时,只需将芯片平整放置在承载块中,向下按动芯片,由于夹持板为斜面设计,挤压使夹持板通过T型块在T型槽内向两侧滑动,夹持弹簧压缩,使芯片滑动进入承载块内并与稳定板贴合,芯片进入后夹持弹簧回弹,使夹持板回位,将芯片固定在夹持板和稳定板之间,简化了将芯片放置在承载装置内的操作,方便了对芯片进行检测,提高了检测效率。

主权项:1.一种芯片检测用承载装置,包括分流装置1,其特征在于:所述分流装置1的两侧固定连接有固定板2,所述分流装置1的上方设置有承载块3,所述承载块3的两侧固定连接在固定板2内,所述承载块3的两侧内滑动连接有夹持装置4,所述承载块3的两端滑动连接有稳定装置5;所述夹持装置4包括夹持板401,所述夹持板401的一侧为斜面设计,所述夹持板401的另一侧固定连接有两个夹持弹簧402,所述夹持弹簧402的另一端固定连接在承载块3上,所述夹持板401的两端固定连接有T型块403,所述T型块403滑动连接在承载块3内。

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