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申请/专利权人：河南埃尔森智能科技有限公司
摘要：本发明公开了一种基于EMVA1288标准的简化CMOS图像传感器成像性能测试方法，包括如下步骤：S100、搭建满足测试要求的实验环境，设置曝光时间梯度，批量采集图像样本；S200、利用采集得到的图像样本计算关键参数，利用其计算图像传感器的标称信噪比和标称动态范围；其中所述关键参数包括不同曝光时间梯度下图像数字信号的时间噪声和空间噪声、传感器饱和信号、全局系统增益及绝对灵敏度阈值。本发明的测试方法考虑到了企业在应用场景下缺乏绝对均匀光源和标准色卡时仍需对CMOS传感器的实际性能进行评估的需求，针对信噪比和动态范围的性能指标设计了对应的测试流程，所需均匀光源面积小、易获取，可有效满足企业在低成本条件下对CMOS图像传感器的成像性能的测试验证。同时避免了因添加镜头引发的不均匀性导致对动态范围测试的干扰。
主权项：1.一种基于EMVA1288标准的简化CMOS图像传感器成像性能测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S100、搭建满足测试要求的实验环境，设置曝光时间梯度，批量采集图像样本；S200、利用采集得到的图像样本计算关键参数，利用其计算图像传感器的标称信噪比和标称动态范围；其中所述关键参数包括不同曝光时间梯度下图像数字信号的时间噪声和空间噪声、传感器饱和信号、全局系统增益及绝对灵敏度阈值。
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百度查询： 河南埃尔森智能科技有限公司 一种基于EMVA1288标准的简化CMOS图像传感器成像性能测试方法
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