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测距装置和测距方法 

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申请/专利权人:索尼半导体解决方案公司

摘要:本发明根据情况有效地使用存储器资源。根据本发明的实施方式的测距装置设置有:控制寄存器21,保持像素模式;阵列单元143,布置了用于检测光子的入射的多个光接收元件;读取单元22,以预定采样周期从每个光接收元件读取检测信号;像素值生成单元15、161、162,通过以像素为单位合计从光接收元件读取的检测信号的值,在每个采样周期生成像素的像素值;以及存储器17,用于针对每个像素存储每个采样周期的像素值的直方图,其中,当在控制寄存器中保持第一像素模式时,将存储器中具有第一尺寸的区域分配给每个像素,当在控制寄存器中保持第二像素模式时,将存储器中具有不同于第一尺寸的第二尺寸的区域分配给每个像素。

主权项:1.一种测距装置,包括:控制寄存器,保持多个像素模式中之一作为设定值;阵列单元,包括多个光接收元件的布置,每个光接收元件检测光子的入射;读取单元,以预定的采样周期从每个光接收元件读取检测信号;像素值生成单元,以像素为单位合计以所述采样周期从所述多个光接收元件中的每一个读取的所述检测信号的数量,并且针对每个采样周期生成每个像素的像素值;以及存储器,用于针对每个像素存储每个采样周期中通过所述像素值生成单元计算的所述像素值的直方图,其中,每个像素由所述多个光接收元件中的一个或多个光接收元件组成,当在所述控制寄存器中保持第一像素模式时,将所述存储器中具有第一尺寸的区域分配给每个像素,并且当在所述控制寄存器中保持第二像素模式时,将所述存储器中具有不同于所述第一尺寸的第二尺寸的区域分配给每个像素;所述像素值生成单元包括:加法单元,针对数量等于第一预定计数的所述光接收元件,合计从所述多个光接收元件中的每一个输出的所述检测信号的数量,并且输出第一类像素值,以及可变并行加法单元,基于从所述加法单元输出的所述第一类像素值输出每个像素的所述像素值,当在所述控制寄存器中保持所述第一像素模式时,所述可变并行加法单元输出所述第一类像素值作为每个像素的所述像素值;并且当在所述控制寄存器中保持所述第二像素模式时,所述可变并行加法单元输出通过对至少两个所述第一类像素值进行相加而获得的值作为每个像素的所述像素值。

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