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申请/专利权人：郑美兰

摘要：本发明公开了一种芯片优化的方法及系统，涉及芯片优化技术领域，该系统包括芯片性能分析模块、芯片优化选择模块、信号完整性分析模块、仿真测试评估模块以及对比执行模块；其技术要点为：采用不同优化方案的芯片进行模拟运行后，通过对各个优化方案下芯片的信号完整性进行分析后，实现对优化方案的初步筛选，而后将剩余的优化方案进行模拟运行，通过计算并对比各个优化方案下对应的芯片测试性能评估值Ctp，可准确、高效的得出能够保证芯片性能最佳的对应优化方案，保证了芯片优化效果，并在一定程度上提高了芯片的性能和工作效率。

主权项：1.一种芯片优化系统，其特征在于，该系统包括：芯片性能分析模块，获取芯片的关键指标数据；芯片优化选择模块，获取芯片的优化策略，且优化策略包括布尔逻辑优化、状态机优化以及数据通路优化，布尔逻辑优化采用的技术包括布尔代数化简、逻辑等式的转化、逻辑门的合并和分解；状态机优化采用的技术包括状态合并、状态编码和状态转移优化；数据通路优化采用的技术包括寄存器分配和调度、数据路径宽度优化，并选择各有优化策略中的任一优化技术进行组合，获取若干待运行的优化方案；信号完整性分析模块，对采用不同优化方案的芯片进行模拟运行，并对各个优化方案下芯片的信号完整性进行分析，依据分析结果，判定信号在各个优化方案对应的芯片中是否正常传输，并提取正常传输的优化方案；芯片的信号完整性分析过程为：使用信号完整性分析工具，对芯片进行分析后生成分析报告，分析报告的内容为：分析信号传输过程中的功耗情况，通过评估功耗消耗是否超过预定值；若功耗消耗超过预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输；分析信号的时序和时钟信息，通过评估时序和时钟，若是数据延迟和时钟偏移任一数据超过对应的预定值，则为异常传输，反之，则为正常传输；仿真测试评估模块，在相同的环境下，依次运行各个正常传输的优化方案，并在相同时刻下监测芯片在不同优化方案下对应的运行数据，依据经过预处理后的运行数据和关键指标数据，搭建数据分析模型，计算不同优化方案下的芯片测试性能评估值Ctp；计算不同优化方案下的芯片测试性能评估值Ctp的过程为：S101、计算运行数据与对应关键指标数据之间的差值；S102、以各个运行数据与其对应关键指标数据之间的差值为评估参数，并依据评估参数，计算芯片测试性能评估值Ctp，公式如下： 式中，Vt表示实时处理速度和处理速度之间的差值，Gt表示实时功耗和功耗之间的差值，St表示实时时钟频率和时钟频率之间的差值，Yt表示实时数据传输延迟率和数据传输延迟率之间的差值，q1、q2、q3、q4分别为实时处理速度和处理速度之间的差值、实时功耗和功耗之间的差值、实时时钟频率和时钟频率之间的差值以及实时数据传输延迟率和数据传输延迟率之间的差值的预设比例系数，且q2＞q1＞q3＞q4＞0，G1为常数修正系数，int为取整函数；对比执行模块，将不同优化方案下的芯片测试性能评估值Ctp进行对比，对各个芯片测试性能评估值Ctp按照从大到小进行排序，提取并执行排序第一的芯片测试性能评估值Ctp所对应的优化方案。

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