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一种Cu掺杂的P型MoS2同质PN结器件、制备方法 

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申请/专利权人:华中科技大学

摘要:本发明涉及一种Cu掺杂的P型MoS2同质PN结器件、制备方法,属于半导体薄膜材料技术领域。本发明同质PN结器件包括硅衬底、SiO2氧化层、Cu掺杂的P型MoS2薄膜和N型MoS2薄膜。制备方法为:将硫源和钼源加入到溶剂中,再加入铜盐,得到前驱体溶液,采用激光辐照前驱体溶液制备Cu掺杂P型MoS2薄膜与衬底上表面接触,再制备N型MoS2薄膜与P型MoS2薄膜接触,由此形成MoS2同质PN结。本发明实现了薄膜生长与掺杂一步完成,使用该方法制备的P型MoS2薄膜均匀性良好、结晶度得到良好提升;实现了无需转移制备PN结,采用同质结构,界面态少。

主权项:1.一种Cu掺杂的P型MoS2同质PN结器件,其特征在于,所述同质PN结器件包括硅衬底、SiO2氧化层、Cu掺杂的P型MoS2薄膜、N型MoS2薄膜;所述SiO2氧化层位于硅衬底上;所述Cu掺杂的P型MoS2薄膜与SiO2氧化层的上表面接触;所述N型MoS2薄膜与Cu掺杂的P型MoS2薄膜的上表面接触;所述Cu掺杂的P型MoS2薄膜与所述N型MoS2薄膜上分别沉积有电极A和电极B,且电极A和电极B相互不接触。

全文数据:

权利要求:

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