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申请/专利权人：布鲁克科技公司
摘要：本申请涉及小角度X射线散射测量。一种x射线装置，该x射线装置可以包括被配置为保持样品的底座；x射线源，该x射线源被配置为将x射线束引向样品的第一侧；检测器，该检测器位于样品的第二侧的下游，该检测器被配置为在样品测量时段期间检测已经透射通过样品的x射线的至少一部分；以及x射线强度检测器，该x射线强度检测器在射束强度监控时段期间定位在位于x射线源与样品的第一侧之间的测量位置处，以便检测x射线束到达样品之前的x射线束的至少一部分。
主权项：1.一种x射线装置，所述x射线装置包括：底座，所述底座被配置为保持样品；x射线源，所述x射线源被配置为将x射线束引向所述样品的第一侧；小角度x射线散射SAXS检测器，所述SAXS检测器被定位在所述样品的第二侧的下游，并被配置为检测由已透射通过所述样品并通过所述第二侧出射的x射线形成的SAXS图案的至少一部分；以及x射线荧光XRF检测器，所述XRF检测器被配置为检测从所述样品发射的荧光x射线；其中，所述XRF检测器包括孔。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 布鲁克科技公司 小角度X射线散射测量
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