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申请/专利权人：国机重装(德阳)检测技术有限公司;二重(德阳)重型装备有限公司
摘要：本发明涉及技术领域，具体为一种材料缺陷深度定位方法。包括如下步骤，S1：在材料两侧分别设置发射源和底片，底片与材料贴合；S2：发射源发送射线照射材料，在底片上显示缺陷的投影位置；S3：同步移动发射源和底片，直到缺陷的投影位置与底片的中心点重合，并记录此时发射源与底片的间距F；S4：底片位置保持不变，将发射源平移，平移长度为L，发射源发送射线照射缺陷，记录缺陷在底片上的投影与底片中心点的距离S；S5：计算得到缺陷在材料内的深度d。本发明，本方法可以结合标准对缺陷大小、性质的要求，对超过标准要求的不合格缺陷进行深度定位并有效返修，使其满足标准的要求从而获得合格的产品。
主权项：1.一种材料缺陷深度定位方法，其特征在于：包括如下步骤，S1：在材料1两侧分别设置发射源2和底片3，始终保证发射源2发射的射线照射在底片3的中心点上，底片3与材料1贴合；S2：发射源2发送射线照射材料1，在底片3上显示缺陷4的投影位置；S3：同步移动发射源2和底片3，直到缺陷4的投影位置与底片3的中心点重合，并记录此时发射源2与底片3的间距F；S4：底片3位置保持不变，将发射源2平移，平移长度为L，发射源2发送射线照射缺陷4，记录缺陷4在底片3上的投影与底片3中心点的距离S；S5：计算得到缺陷4在材料1内的深度d；S6：根据缺陷4深度d，对材料1的缺陷4进行挖除，填补。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 国机重装(德阳)检测技术有限公司 二重(德阳)重型装备有限公司 一种材料缺陷深度定位方法
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