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申请/专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
摘要：本申请属于缺陷检测技术领域，具体公开了一种MicroLED显示器缺陷检测方法及装置，其中方法包括：获取待测MicroLED显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，感兴趣区域的区域信息基于初检设备对目标区域拍摄的第一图像确定，包括感兴趣区域在目标区域内的位置信息和感兴趣区域的大小，初检设备为对待测MicroLED显示器的亮度和或色度进行检测的设备；基于感兴趣区域的区域信息，确定感兴趣区域的高光谱数据；将感兴趣区域的高光谱数据发送至上位机进行目标区域的缺陷检测。本申请中上位机接收到的高光谱数据量大大减少，提高检测效率的同时降低了处理高光谱数据的硬件要求。
主权项：1.一种MicroLED显示器缺陷检测方法，其特征在于，应用于高光谱成像设备，包括：获取待测MicroLED显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，所述感兴趣区域的区域信息基于初检设备对所述目标区域拍摄的第一图像确定，包括所述感兴趣区域在所述目标区域内的位置信息和所述感兴趣区域的大小，所述初检设备为对所述待测MicroLED显示器的亮度和或色度进行检测的设备；基于所述感兴趣区域的区域信息，确定所述感兴趣区域的高光谱数据；将所述感兴趣区域的高光谱数据发送至上位机进行所述目标区域的缺陷检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉精立电子技术有限公司 武汉加特林光学仪器有限公司 武汉精测电子集团股份有限公司 Micro LED显示器缺陷检测方法及装置
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