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申请/专利权人：上海圣之尧智能科技有限公司
摘要：本发明公开了一种铜箔缺陷检测系统，包括：采集模块，用于采集获得一与待测铜箔对应的初始图像；处理模块，对所述初始图像进行图像预处理获得一标准初始图像；匹配模块，于所述标准初始图像进行轮廓匹配获得所述待测铜箔的检测图像；对比模块，基于所述检测图像与一标准铜箔图像的差异系数大于一门限值，生成一与该待测铜箔相关联的缺陷标签，能够提取待测铜箔的检测图像，并且将该检测图像与标准铜箔图像进行对比，对比过程中，以检测图像的像素单元为最小对比单元，从而能够提高对比速度，实现在较短的时间内完成对该两侧铜箔的检测。
主权项：1.一种铜箔缺陷检测系统，其特征在于，包括：采集模块，用于采集获得一与待测铜箔对应的初始图像；处理模块，对所述初始图像进行图像预处理获得一标准初始图像；匹配模块，于所述标准初始图像进行轮廓匹配获得所述待测铜箔的检测图像；所述匹配模块包括：轮廓获取模块，获取一铜箔标准轮廓；定位模块，基于所述铜箔标准轮廓于所述标准初始图像进行匹配获得所述待测铜箔的所述检测图像；对比模块，基于所述检测图像与一标准铜箔图像的差异系数大于一门限值，生成一与该待测铜箔相关联的缺陷标签；所述对比模块包括：划分模块，将检测图像划分为多个像素单元，每一所述像素单元包含多个像素；单元灰度获取模块，根据每一像素单元中的所述像素的灰度值获得所述像素单元的单元灰度值；差异系数获取模块，基于每一所述像素单元的所述单元灰度与记载于所述标准铜箔图像的对应的灰度范围值，获得所述检测图像的所述差异系数；标签生成模块，基于所述差异系数大于所述门限值，生成与所述待测铜箔相关联的缺陷标签；其中，所述标准铜箔图像同样的被划分为若干像素单元，每一个像素单元附加有一个灰度范围，所述差异系数即为所述检测图像中的所述像素单元的所述单元灰度值不在对应的所述灰度范围的数量。
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权利要求：
百度查询： 上海圣之尧智能科技有限公司 一种铜箔缺陷检测系统
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