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一种快速确定金属硫化矿典型晶面的方法 

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申请/专利权人:武汉理工大学

摘要:本发明公开一种快速确定金属硫化矿典型晶面的方法,包括如下步骤:根据矿物XRD标准图谱和实际样品XRD图谱确定矿物可能存在的晶面;通过建模软件建立矿物晶胞模型,再基于未优化的晶胞模型建立所有可能存在的晶面模型;统计各晶面面积与断裂键数量,计算各晶面的断键密度;根据断键密度大小确定矿物各晶面的解理顺序。本发明通过采用矿物各晶面断键密度取代表面能计算确定矿物各晶面解理顺序,将繁琐的软件模拟计算过程转变成简单的数学计算过程,操作简单,省时省力,可靠性高;本发明基于XRD图谱提供的晶面信息,通过计算断键密度为典型晶面的选择提供理论依据;本发明方法无需使用软件进行模拟计算,节省大量人力物力,提高计算效率。

主权项:1.一种快速确定金属硫化矿典型晶面的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:根据矿物XRD标准图谱和实际样品XRD图谱确定矿物可能存在的晶面;S2:通过建模软件建立矿物晶胞模型,再基于未优化的晶胞模型建立所有可能存在的晶面模型;S3:统计各晶面面积与断裂键数量,计算各晶面的断键密度;S4:根据断键密度大小确定矿物各晶面的解理顺序;其中,步骤S1具体为:将矿物样品的XRD图谱和XRD标准图谱进行比对,标注出XRD衍射峰对应的晶面指数,根据这些晶面指数定性确定矿物可能存在的晶面;所述矿物样品为经破碎至0.1~100μm的样品。

全文数据:

权利要求:

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