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申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要：本发明涉及一种基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法，该方法将电荷载流子的复合速率方程与遗传算法和统计方法相结合，拟合了薄膜的时间分辨荧光光谱信号，从而实现了对势阱密度值以及势阱深度值的直接测量。该方法有助于成功确定不同样品的势阱分布。这种测量方法对于优化材料性能和提高器件效率具有重要作用。
主权项：1.一种基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、选择钙钛矿作为待测样品，放置于时间分辨荧光光谱探测系统的样品台上；S2、利用时间分辨荧光光谱探测系统使不同功率Iexci的激光，分布照射在所述待测样品上产生荧光，利用时间相关单光子计数器收集不同激光功率下待测样品产生的不同荧光，根据脉冲激发事件与光子接收事件的时间差确定对应的荧光强度-时间图Iit；S3、根据载流子复合与跃迁模型，拟合荧光强度-时间图Iit，并利用遗传算法优化参数选取过程，得到一组参数set1，重复该步骤，直至得到n+1组参数，即{set1,set2,set3,……setn+1}；S4、从所述n+1组参数中提取势阱密度{trapdensity1,trapdensity2,trapdensity3,……trapdensityn+1}，并统计所取出势阱密度在每一个区间内的计数，得到钙钛矿薄膜势阱分布，即势阱密度最概然值Nt；S5、从所述n+1组参数中提取势阱深度，得到势阱深度最概然值ΔE。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法
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