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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：本发明涉及光学辐射测量领域，具体涉及一种光阑系统视场内杂光测量方法及系统。该方法及系统包括：产生小口径均匀准直光源；精密调节相对光源的位移和角度关系，采用精确扫描方式得到在半径不同的照射区域的热电响应与入射位置距离光轴中心位置的对应关系；基于辐照度值进行二维面元拟合得到各个光阑引入的杂散光对于垂直入射能量的影响量评估。本发明为适用于热电型探测器的新型垂直入射杂散光影响测量方法，以解决腔型太阳绝对辐射计视场内杂散光修正系数的实验室测量问题，实现基于参数自评定的高精度的太阳总辐照度测量。
主权项：1.一种光阑系统视场内杂光测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S101:产生小口径均匀准直光源；S102:精密调节相对光源的位移和角度关系，采用精确扫描方式得到在半径不同的照射区域的热电响应与入射位置距离光轴中心位置的对应关系；S103:基于辐照度值进行二维面元拟合得到各个光阑引入的杂散光对于垂直入射能力的影响量评估。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种光阑系统视场内杂光测量方法及系统
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