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基于单光子计数法的显微圆偏振荧光光谱探测系统及方法 

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申请/专利权人:中国科学院大连化学物理研究所

摘要:本发明涉及一种基于单光子计数法的显微圆偏振荧光光谱探测系统及方法,其中白光光源、被测样品、二向色镜、光弹性调制器和格兰棱镜呈一线设置,可切换光源系统射出光经退偏器射入二向色镜中,检测切换反射镜可移动地设于二向色镜和光弹性调制器之间,且检测切换反射镜移入时,二向色镜的出射光经检测切换反射镜反射射入显微成像系统中,检测切换反射镜移出时,二向色镜的出射光经过光弹性调制器和格兰棱镜射入光谱采集系统中,光弹性调制器通过线路与光弹性调制器控制器相连,光弹性调制器控制器通过线路与光谱采集系统相连。本发明可根据需要实现光源和系统转换,并且可以实现对固体样品特别是高压模块样品的圆偏振荧光光谱探测。

主权项:1.一种基于单光子计数法的显微圆偏振荧光光谱探测系统,其特征在于:包括可切换光源系统、退偏器(7)、二向色镜(8)、白光光源(11)、检测切换反射镜(12、光弹性调制器(13)、格兰棱镜(14)、光谱采集系统和显微成像系统,其中白光光源(11)、被测样品(10)、二向色镜(8)、光弹性调制器(13)和格兰棱镜(14)呈一线设置,可切换光源系统设于二向色镜(8)一侧且射出的激发光经所述退偏器(7)射入所述二向色镜(8)中,检测切换反射镜(12可移动地设于二向色镜(8)和光弹性调制器(13)之间,且所述检测切换反射镜(12移入时,二向色镜(8)的出射光经所述检测切换反射镜(12反射射入所述显微成像系统中,所述检测切换反射镜(12移出时,二向色镜(8)的出射光经过所述光弹性调制器(13)和格兰棱镜(14)射入所述光谱采集系统中,所述光弹性调制器(13)通过线路与光弹性调制器控制器(27)相连,所述光弹性调制器控制器(27)通过线路与所述光谱采集系统相连;所述可切换光源系统包括第一连续激光光源(1)、第二连续激光光源(2)、第一反射镜(3)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)和光源切换反射镜(4),其中第一反射镜(3)设于第一连续激光光源(1)的输出光路上,光源切换反射镜(4)设于第二连续激光光源(2)的输出光路上且可移动地设于第一反射镜(3)和第二反射镜(5)之间,当所述光源切换反射镜(4)移出时,第一连续激光光源(1)的出射光依次经第一反射镜(3)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)反射射入所述退偏器(7)中,当所述光源切换反射镜(4)移入时,第二连续激光光源(2)的出射光依次经光源切换反射镜(4)、第二反射镜(5)、第三反射镜(6)反射射入所述退偏器(7)中;所述光弹性调制器(13)通过光弹性调制器控制器(27)发出周期性信号控制周期性旋转,且经过光弹性调制器(13)和格兰棱镜(14)后形成的线偏振荧光光束在一个周期中获得2次最强的光束光强,并且其中一次为左旋圆偏振荧光光束形成的线偏振荧光光束,另一次为右旋圆偏振荧光光束形成的线偏振荧光光束,光谱采集系统采集线偏振荧光光束并计算获得左旋圆偏振荧光光束光谱相对光强与右旋圆偏振荧光光束光谱相对光强差值,即: ;同时获得被测样品(10)的荧光光谱非对称系数,即: ;通过对所述非对称系数的分析获得被测样品(10)的圆偏振荧光光谱特性;所述光弹性调制器控制器(27)发出周期性方波信号,且所述光弹性调制器(13)受所述方波信号的上升沿触发。

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