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申请/专利权人：天津农学院

摘要：本发明公开了一种基于发光二极管阵列和光敏电阻网络的逾渗实验方法，该方法采用一种具有发光二极管阵列和光敏电阻网络的逾渗实验仪，该逾渗实验仪包括母板A和母板B，母板A上布置有光敏电阻网络，在母板B上布置有发光二极管阵列，两块母板贴合在一起，使各光敏电阻和各发光二极管通过两块母板上的圆孔一一对应。光敏电阻网络连接有电流骤变检测电路，电流骤变检测电路中设置有指示发光二极管。按照发光二极管熄灭数量的占据概率，从低占据概率到高占据概率让发光二极管熄灭，当占据概率增加到某一数值时，光敏电阻网络电流骤然下降，电流骤变检测电路中的指示发光二极管由原来的导通发光状态变成截止熄灭状态，从而表示发生逾渗转变。

主权项：1.一种基于发光二极管阵列和光敏电阻网络的逾渗实验方法，其特征在于：该方法采用一种具有发光二极管阵列和光敏电阻网络的逾渗实验仪，该逾渗实验仪包括母板A和母板B，所述母板A上布置有圆孔阵列，所述圆孔阵列的每个圆孔中均嵌装有一个光敏电阻，光敏电阻间通过导线相连构成光敏电阻网络，该光敏电阻网络电连接至光敏电阻主回路，在光敏电阻主回路中设置有直流电源、采样电阻和电流骤变检测电路，所述电流骤变检测电路并联在采样电阻两端，用于检测光敏电阻网络的电流是否发生骤降，电流骤变检测电路中设置有指示发光二极管，用于对电流变化情况进行状态指示；在母板B上布置有与母板A一致的圆孔阵列，在母板B上的每个圆孔中嵌装有一个发光二极管，这些发光二极管电连接在一块印刷电路板上，构成发光二极管阵列，该发光二极管阵列电连接发光二极管阵列控制电路，由发光二极管阵列控制电路对发光二极管阵列中的每个发光二极管的亮灭状态进行控制；采用所述逾渗实验仪进行实验的方法如下：将母板A的正面和母板B的正面能够紧密贴合在一起，并使母板A的圆孔阵列的每个圆孔与母板B的圆孔阵列的每个圆孔一一相对；接通光敏电阻主回路电源，再接通发光二极管阵列控制电路电源，刚接通电源时发光二极管阵列中的所有发光二极管全亮，光敏电阻都处于低阻值导通状态，此时流经整个光敏电阻网络的电流是最大值；然后按照发光二极管熄灭数量所占母板B圆孔数量的占据概率来划分，从低占据概率到高占据概率让发光二极管熄灭，发光二极管熄灭处对应圆孔中的光敏电阻从导通变成高阻值状态，一开始由于占据概率较低，整个光敏电阻网络仍会有较大电流流过，随着熄灭的发光二极管所占百分比的增加，电流值逐渐减少，直到占据概率增加到某一数值时，整个光敏电阻网络电流骤然下降，由于电流的急剧变小触发了电流骤变检测电路中的比较器发生变化，电流骤变检测电路中的指示发光二极管由原来的导通发光状态变成截止熄灭状态。

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