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申请/专利权人：清华大学
摘要：本公开涉及材料检测技术领域，尤其涉及一种基于多色X射线光源衍射的丝织构测定方法与系统，其中，该方法包括：控制待测样品的朝向，以使多色X射线垂直于所述待测样品的丝轴方向照射到所述待测样品；获取所述多色X射线照射到所述待测样品后产生的第一衍射信号；对所述第一衍射信号进行处理，得到所述待测样品内部的丝织构信息。通过本公开，利用射线衍射技术，使用实验室常规的多色X射线源，无需使用X射线单色器，即可实现在多色X射线条件下对待测样品内部的丝织构进行快速定量地检测。
主权项：1.一种基于多色X射线光源衍射的丝织构测定方法，其特征在于，所述方法包括：控制待测样品的朝向，以使多色X射线垂直于所述待测样品的丝轴方向照射到所述待测样品；获取所述多色X射线照射到所述待测样品后产生的第一衍射信号；对所述第一衍射信号进行处理，得到所述待测样品内部的丝织构信息；其中，所述待测样品内部的丝织构信息包括：所述待测样品中至少一个晶面的法向量与所述待测样品的丝轴方向的夹角在取至少一个角度时对应的晶面密度，第一晶面的法向量与所述待测样品的丝轴方向的夹角在取第一角度时对应的晶面密度由所述第一角度、所述第一晶面对应的晶面间距、所述第一衍射信号确定；所述第一角度为所述至少一个角度中的任一角度，所述第一晶面为所述至少一个晶面中的任一晶面。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 一种基于多色X射线光源衍射的丝织构测定方法与系统
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