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申请/专利权人：海伯森技术(深圳)有限公司
摘要：本发明提供了一种基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统及方法，根据本发明实施方式提供的方法，采用线光源进行光谱共焦测量，克服了点光源进行光谱共焦测量时采样效率低的问题；采用对称结构的两套色散透镜组来实现线光源的色散以及被测物体表面反射光的接收，无需棱镜等分光元件，减少了光线在系统中能量的损失，并将滤光器置于第二色散透镜组的焦平面处，利用聚焦透镜组对被测物表面反射的光线进行二次成像，从而滤除掉被测物表面非聚焦波长反射的光线，大大的增加了该测量系统信噪比。因此本实施例所提供的系统及方法，不仅可以有效的提高测量效率，而且减少光线能量的损失，并且提高了信噪比，因此本发明具有高效率和高信噪比的特点。
主权项：1.一种基于光谱共焦的物体表面三维信息测量系统，其特征在于，包括：宽光谱线光源、第一色散透镜组、第二色散透镜组，滤光器、聚焦透镜组、面阵探测器和处理器；所述宽光谱线光源，用于输出线型宽光谱光束；所述第一色散透镜组，用于对所述线型宽光谱光束进行轴向色散，并将色散出的含有不同波长的光线聚焦到被测物体表面上；所述第二色散透镜组，用于接收所述被测物体表面反射的反射光束，并将所述反射光束传输到滤光器；所述滤光器，位于所述第二色散透镜组的焦平面上，用于接收所述第二色散透镜组透射的反射光束，并过滤出特定波长范围的反射光束；其中，特定波长范围为聚焦在所述被测物体表面上光线的波长范围；聚焦透镜组，用于接收所述滤光器过滤出的反射光束，并将所述反射光束聚焦到面阵探测器上；所述面阵探测器，用于接收反射光束，获取所述反射光束的成像位置信息，并将获取的所述成像位置信息传输至处理器；所述处理器，用于根据所述成像位置信息得到被测物体表面的三维信息；所述滤光器为狭缝，所述狭缝设置在所述第二色散透镜组的焦平面上，用于过滤被测物体表面反射出的非聚焦波长的光线。
全文数据：
权利要求：
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