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申请/专利权人：安立股份有限公司

摘要：本发明的课题在于不仅进行比特错误的测量，还同时进行Flit错误的测量。通过操作部2进行包含与以高速总线标准来定义的通道数相对应的EIEOS及SKP的Flit码型的1个周期、与通道数相对应的Flit长度、相当于SKP的部分的掩码码型长度、相当于SKP重复周期的掩码码型周期、用于判别Flit错误的阈值、相当于EISOS的部分的掩码码型长度、EIEOS的插入周期、Flit码型的码型起始的设定。错误检测器4通过符号掩码生成部27生成掩码码型，通过错误检测部30检测并计数来自被测物W的PAM4信号的相当于Flit的部分的错误，通过Flit错误检测部31检测并计数相当于Flit的部分的每个ECCGroup的FEC符号错误，将FEC符号错误数超过了阈值的部分判定为Flit错误。

主权项：1.一种误码率测量装置，其具备进行设定的操作部2及接收从被测物W发送的基于Flit码型的比特串数据的PAM4信号并检测错误的错误检测器4，所述误码率测量装置的特征在于，所述操作部进行包含与以高速总线标准来定义的通道数相对应的EIEOS及SKPOS的Flit码型的1个周期、与通道数相对应的Flit长度、用于对相当于所述SKPOS的部分进行掩码的掩码码型长度、相当于所述SKPOS的重复周期的掩码码型周期、用于判别Flit错误的阈值、用于对相当于所述EIEOS的部分进行掩码的掩码码型长度、所述EIEOS的插入周期、所述Flit码型的码型起始的设定，所述错误检测器包括：符号掩码生成部27，生成用于对相当于所述SKPOS的部分进行掩码的掩码码型长度、相当于所述SKPOS的重复周期的掩码码型周期、用于对相当于所述EIEOS的部分进行掩码的掩码码型长度、基于所述EIEOS的插入周期的掩码码型；错误检测部30，包含利用所述掩码码型对从所述被测物接收到的所述PAM4信号的相当于所述EIEOS及所述SKPOS的部分进行掩码而检测并计数相当于Flit的部分的错误；Flit错误检测部31，检测相当于所述Flit的部分的每个ECCGroup的FEC符号错误并计数FEC符号错误数，并且将FEC符号错误数超过了所述阈值的部分判定为Flit错误；及同步状态管理部32，当通过所述错误检测部检测出的相当于所述Flit的部分的错误的量超过了同步条件阈值时，指示重新获取所述Flit码型的码型起始。

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