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申请/专利权人：电子科技大学
摘要：本发明提供一种具有宽损耗测试范围的材料复介电常数测试装置及方法，属于微波测试技术领域。该装置通过在圆柱腔的顶部端面中心和径向方向上设置中心孔及多个偏心孔，将待测样品加载于圆柱腔中心孔处或偏心孔处，使得圆柱腔内TM0n0模式能够起振，从而实现对待测样品的介电常数的测量；同时建立了待测样品放置于偏心孔时的微扰算法，使得同一圆柱腔能够同时满足高、中、低损耗材料复介电常数测试需求。
主权项：1.一种具有宽损耗测试范围的材料复介电常数测试装置，其特征在于，包括圆柱腔、若干个堵孔座和一个样品座，所述样品座与堵孔座结构相似，仅样品座中心设置样品通孔，用于放置待测样品；所述圆柱腔的上端面中心处设置一个中心通孔，同一径向方向上设置若干个偏心通孔；所述堵孔座和样品座用于放置于中心通孔或偏心通孔内，堵孔座和样品座的下底面与圆柱腔的上端面的底部齐平，且尺寸与中心通孔、偏心通孔的尺寸相适应，使得堵孔座、样品座放置于圆柱腔上后，圆柱腔形成完整、封闭腔体。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种具有宽损耗测试范围的材料复介电常数测试装置及方法
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