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申请/专利权人：四川云海芯科微电子科技有限公司

摘要：本发明公开了一种闪存的性能测试方法、装置、电子设备及计算机程序产品，本发明依据闪存在常温下的性能测试数据，以及在多个高低温环境下的性能测试数据，来得出其在不同温度条件下的性能测试结果，并将其在不同高低温环境中的性能测试结果，与其在常温下的性能测试结果进行横向对比，从而得出相应的性能变化数据；最后，则可根据前述性能变化数据和不同温度下的性能测试结果，来得出闪存的综合性能测试结果；由此，本发明根据闪存在常温以及多个高低温环境下的性能测试数据，来得出闪存的综合性能，相比于传统技术，能够准确全面地分析出闪存的本身能力以及对宽温环境的适应能力，从而可提高对闪存测试的全面性和准确性。

主权项：1.一种闪存的性能测试方法，其特征在于，包括：获取目标闪存在指定温度下的第一读写测试数据，在至少一个第一温度数据下的第二读写测试数据，以及在至少一个第二温度数据下的第三读写测试数据，其中，任一第一温度数据包括第一写入温度和第一读取温度，任一第二温度数据包括第二写入温度和第二读取温度，所述第一写入温度大于所述第一读取温度，所述第二写入温度小于所述第二读取温度，所述第一写入温度和所述第二读取温度均高于第一预设温度，所述第一读取温度和所述第二写入温度均低于第二预设温度，所述第一预设温度高于所述第二预设温度，且所述指定温度处于所述第二预设温度与所述第一预设温度之间；基于所述第一读写测试数据，确定出所述目标闪存在指定温度下的第一性能测试结果；根据各个第二读写测试数据，得出目标闪存在各个第一温度数据下的第二性能测试结果，以及根据各个第三读写测试数据，得出目标闪存在各个第二温度数据下的第三性能测试结果；利用所述第一性能测试结果和各个第二性能测试结果，得出所述目标闪存在各个第一温度数据下的读写性能，相比于在所述指定温度下的读写性能的第一变化数据，以及利用所述第一性能测试结果和各个第三性能测试结果，得出所述目标闪存在各个第二温度数据下的读写性能，相比于在所述指定温度下的读写性能的第二变化数据；依据所述第一性能测试结果、各个第二性能测试结果、各个第三性能测试结果、各个第一变化数据以及各个第二变化数据，得出所述目标闪存的综合性能测试结果；所述第一读写测试数据包括所述目标闪存中的每个区块在所述指定温度下的块擦除时延，以及每个区块中的各个页在所述指定温度下的页编程时延、页读取时延和原始比特错误率；其中，基于所述第一读写测试数据，确定出所述目标闪存在指定温度下的第一性能测试结果，包括：获取所述目标闪存在所述指定温度下的块擦除时延阈值、页编程时延阈值、页读取时延阈值以及原始比特错误率阈值；统计出所述目标闪存中块擦除时延大于块擦除时延阈值的区块个数，页编程时延大于页编程时延阈值的页个数，页读取时延大于页读取时延阈值的页个数，以及原始比特错误率大于原始比特错误率阈值的页个数，以在统计后，分别得到所述目标闪存在所述指定温度下进行读写测试对应的异常区块比例、写入异常页比例、读取异常页比例以及数据传输异常页比例；基于所述目标闪存中的每个区块在所述指定温度下的块擦除时延，得出所述目标闪存在所述指定温度下的块擦除时延均值；依据所述目标闪存中的每个区块内的各个页在所述指定温度下的页编程时延、页读取时延和原始比特错误率，得出所述目标闪存在所述指定温度下的编程时延均值、读取时延均值和原始比特错误率均值；利用所述异常区块比例、所述写入异常页比例、所述读取异常页比例、所述数据传输异常页比例以及所述目标闪存在所述指定温度下的块擦除时延均值、编程时延均值、读取时延均值和原始比特错误率均值，组成所述第一性能测试结果；所述第一性能测试结果包括所述目标闪存在所述指定温度下的块擦除时延均值、编程时延均值、读取时延均值和原始比特错误率均值，各个第二性能测试结果包括所述目标闪存在对应第一温度数据下的块擦除时延均值、编程时延均值、读取时延均值和原始比特错误率均值，各个第三性能测试结果包括所述目标闪存在对应第二温度数据下的块擦除时延均值、编程时延均值、读取时延均值和原始比特错误率均值；其中，依据所述第一性能测试结果、各个第二性能测试结果、各个第三性能测试结果、各个第一变化数据以及各个第二变化数据，得出所述目标闪存的综合性能测试结果，包括：获取擦除时延权重、编程时延权重、读取时延权重、比特错误率权重、第一权重以及第二权重；将所述第一性能测试结果中的块擦除时延均值与擦除时延权重相乘，编程时延均值与编程时延权重相乘，读取时延均值与读取时延权重相乘，以及将原始比特错误率均值与比特错误率权重相乘，并将相乘得到的结果进行相加处理，以在相加处理后，得到第一中间值；将各个第二性能测试结果和各个第三性能测试结果中的块擦除时延均值与擦除时延权重相乘，编程时延均值与编程时延权重相乘，读取时延均值与读取时延权重相乘，以及将各个第二性能测试结果和各个第三性能测试结果中的原始比特错误率均值与比特错误率权重相乘，并将各个第二性能测试结果和各个第三性能测试结果对应的相乘结果进行相加处理，以在相加处理后，得到若干第二中间值；计算出各个第一变化数据与第一权重的乘积，以及各个第二变化数据与第二权重的乘积，以分别得若干第三中间值和若干第四中间值；利用第一中间值、若干第二中间值、若干第三中间值和若干第四中间值，得到所述目标闪存的读写性能值；基于所述读写性能值，确定出所述目标闪存的综合性能测试结果。

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