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内容可寻址存储器装置、电路及其存储器自测试方法 

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申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

摘要:一种内容可寻址存储器装置。自测试控制电路产生自测试驱动信号,并控制外部测试模式产生电路产生搜寻数据及地址信号。内容可寻址存储器电路包含:存储器电路、内部测试模式产生电路及内部比较电路。存储器电路从外部测试模式产生电路接收搜寻数据及地址信号以进行搜寻操作,对应匹配线产生实际匹配信号。内部测试模式产生电路从自测试控制电路接收自测试驱动信号,以产生预期匹配信号。内部比较电路接收实际匹配信号及预期匹配信号对应进行比较,以产生匹配比较结果,以使自测试控制电路接收并根据匹配比较结果对匹配线进行验证。

主权项:1.一种内容可寻址存储器电路,包含:存储器电路,配置以接收搜寻数据以及地址信号,并据以进行搜寻操作,以对应多个匹配线产生多个实际匹配信号;内部测试模式产生电路,配置以接收多个自测试驱动信号,以产生多个预期匹配信号;以及内部比较电路,配置以接收所述实际匹配信号以及所述预期匹配信号对应进行比较,以产生多个匹配比较结果。

全文数据:

权利要求:

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