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申请/专利权人：深圳市金灿灿信息技术有限公司

摘要：本发明涉及IC卡芯片自动检测技术领域，具体公开了一种IC卡芯片自动检测装置，包括：检测机主体，还包括：矫正机构，矫正机构设置在芯片检测件中，通过芯片检测件的工作及时对侧弯的探针进行矫正；接卡机构，接卡机构设置在检测机架正对芯片检测件的一侧：当芯片检测件连续多个检测出残次品时，可能是探针件的探针发生了弯曲造成的检测不准确，所以当芯片检测件连续多个检测出残次品时，通过接卡机构把残次品吹离传送带，再通过接卡机构对连续残次品进行计数，数量达到指定值时，通过矫正机构自动对多个探针进行扶直，通过矫正机构的外力把弯曲的探针扶直，有利于增加设备检测的精准度和效率。

主权项：1.一种IC卡芯片自动检测装置，包括：检测机主体（1），所述检测机主体（1）包括检测机架（11），所述检测机架（11）上方分别设置有芯片检测件（13）、感应检测件（15）和刷磁检测件（16），所述检测机架（11）的出卡端设置有存料盒（14），所述检测机架（11）中设置有传送带（12），所述传送带（12）上设置有IC卡体（17），其特征在于：还包括：矫正机构（2），所述矫正机构（2）设置在芯片检测件（13）中，通过芯片检测件（13）的工作对侧弯的探针进行矫正；接卡机构（3），所述接卡机构（3）设置在检测机架（11）正对芯片检测件（13）的一侧，通过接卡机构（3）对芯片检测件（13）检测出的残次品进行回收并计数，用于控制矫正机构（2）的工作；所述芯片检测件（13）的下方设置有升降柱（18），所述升降柱（18）的内部设置有探针件（19），通过探针件（19）在升降柱（18）中伸缩对芯片进行接触检测；所述矫正机构（2）包括扶直板（21），所述扶直板（21）的上壁固定设置有四个关于扶直板（21）圆心对称的推力柱（22），所述推力柱（22）上方设置有与升降柱（18）固定连接的固定板（23），且推力柱（22）的内部空心区域的直径尺寸自上而下逐渐增加；所述接卡机构（3）包括接卡口（31），所述接卡口（31）的开口方向固定设置有延伸板（32），所述延伸板（32）的顶部固定设置有喷气柱（33），且喷气柱（33）正对着芯片检测件（13）下方的IC卡体（17）。

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