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一种深度测试的优化方法及装置 

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申请/专利权人:龙芯中科技术股份有限公司

摘要:本发明提供了一种深度测试的优化方法及装置,将目标图元分成至少两个区域,包括互不重叠的第一区域和第二区域,第一区域的第一最大深度值小于所述第二区域的第二最大深度值;确定输入图元是否在第一区域和第二区域上被完全遮挡;在未被完全遮挡并且输入图元的最大深度值小于第二最大深度值的情况下,根据输入图元的最大深度值与第一最大深度值和第二最大深度值的关系,以及输入图元的有效像素点对第一区域和第二区域的覆盖,更新第一最大深度值和或第二最大深度值。本发明将目标图元划分成两个区域进行图元是否被遮挡的判断,能提高判断的准确性,同时,采用直接更新的方式更新目标图元两个区域的最大值,避免了数据延迟导致的剔除效率低。

主权项:1.一种深度测试的优化方法,其特征在于,所述方法包括:将目标图元划分成至少两个区域,包括互不重叠的第一区域和第二区域,所述第一区域的第一最大深度值小于所述第二区域的第二最大深度值;确定输入图元是否在第一区域和第二区域上被完全遮挡;在未被完全遮挡并且所述输入图元的最大深度值小于所述第二最大深度值的情况下,根据所述输入图元的最大深度值与所述第一最大深度值和所述第二最大深度值的关系,以及所述输入图元的有效像素点对所述第一区域和第二区域的覆盖,更新所述第一最大深度值和或第二最大深度值;将更新后的所述第一最大深度值和或第二最大深度值写入深度缓存。

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权利要求:

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