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申请/专利权人：成都态坦测试科技有限公司
摘要：本发明提供一种测试装置及测试机，涉及芯片领域。该测试装置包括多个测试机构、飞梭机构和第一夹取机构，多个测试机构分为多组，多组测试机构分别设置于不同高度处，同组的测试机构沿第一方向依次设置，且测试机构能够接收并测试芯片；飞梭机构具有至少一个载料部，载料部能够沿所述第一方向移动，且载料部能够承载至少一个芯片；第一夹取机构至少能够将芯片在测试机构和所述载料部之间转移。本发明提供的测试装置通过改变测试装置的布局，进而可在增加测试机构数量的基础之上，缩小测试装置的体积，且能够有效缩小机械手移动范围，进而提升生产效率。
主权项：1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：多个测试机构，多个所述测试机构分为多组，多组所述测试机构分别设置于不同高度处，同组的所述测试机构沿第一方向依次设置，且所述测试机构能够接收并测试芯片；和飞梭机构，所述飞梭机构具有至少一个载料部，所述载料部能够沿所述第一方向移动，且所述载料部能够承载至少一个所述芯片；以及第一夹取机构，所述第一夹取机构至少能够将所述芯片在所述测试机构和所述载料部之间转移。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都态坦测试科技有限公司 一种测试装置及测试机
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