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申请/专利权人：上海超捷芯软科技有限公司
摘要：本申请提供一种集成电路失效边界处理方法及装置、电子设备、介质，应用于集成电路设计、可靠性评估技术领域，其中将初始的工艺偏差变量初步筛选为相关变量向量和非相关变量向量，并针对所述相关变量向量和所述非相关变量向量进行随机采样，以及将随机采样所得数据构成第一矩阵，并进行电路仿真，基于电路仿真得到的数据集进行交叉验证，在交叉验证中筛选出关键变量向量，最后基于关键变量向量建立二次规划模型，通过全局优化寻找出失效边界。因此，通过变量筛选和交叉验证，能够缩小工艺偏差变量维度，使得基于关键变量建立二次模型的失效边界搜索具有很高的效率，所需计算资源和成本低，保证了集成电路可靠性评估精度。
主权项：1.一种集成电路失效边界处理方法，其特征在于，包括：将初始的工艺偏差变量初步筛选为相关变量向量和非相关变量向量，其中相关变量为与指定电路性能指标相关的工艺偏差变量，非相关变量为除相关变量外的其他工艺偏差变量；针对所述相关变量向量和所述非相关变量向量进行随机采样，并将随机采样所得数据构成第一矩阵，并基于第一矩阵进行电路仿真和将仿真得到的电路性能向量构成第一数据集；基于所述第一数据集进行交叉验证，并在交叉验证中筛选出关键变量向量，其中所述关键变量为在交叉验证中，交叉验证的回归系数向量中的非零项在所述相关变量向量中所对应的工艺偏差变量；基于所述关键变量向量建立二次规划模型，并通过全局优化寻找出失效边界，其中失效边界上的点用于表征集成电路在不失效情况下所具有最差性能的工艺偏差点。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海超捷芯软科技有限公司 一种集成电路失效边界处理方法及装置、电子设备、介质
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