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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要：本发明为解决现有脉冲载波包络相位噪声测量方法，存在测量条件苛刻，测量系统复杂的问题，而一种超短脉冲载波包络相位噪声单发测量装置及测量方法。该装置包括依次设置的双孔透光片、凹面镜和介质片；待测脉冲经双孔透光片上的两个大小不同的小孔将待测脉冲分成两个脉冲，较强的脉冲为调制脉冲；在较弱的脉冲的光路上设置有双折射延迟片，将透射后脉冲变成两个不同延时的共线的采样脉冲；调制脉冲和采样脉冲平行入射至凹面镜，经凹面镜反射后正入射至介质片；在采样脉冲反射光路上依次设有偏振器、透镜和能量探测器；采样脉冲经偏振器在空间上分光，再依次入射至透镜聚焦和能量探测器；利用光场诱导反射率调制得到待测脉冲的CEP变化。
主权项：1.一种超短脉冲载波包络相位噪声单发测量装置，其特征在于：包括沿光路依次设置的双孔透光片1、凹面镜3和介质片4；待测脉冲经双孔透光片1后分成较强的第一脉冲和较弱的第二脉冲，第一脉冲作为调制脉冲；沿第二脉冲的光路上设置有双折射延迟片2，双折射延迟片2的光轴垂直于待测脉冲传播方向，且与采样脉冲偏振方向成45°夹角；所述双折射延迟片2的厚度根据波长以及材料的双折射特性选择；经双折射延迟片2透射后的第二脉冲形成两个同轴传输且具有不同延时的采样脉冲，分别为o光和e光；所述o光和e光的延迟差Δτ为：Δτ＝T4+n×T其中，T为待测脉冲周期；n为负整数；所述调制脉冲、o光和e光平行入射至凹面镜3，经凹面镜3反射后入射至介质片4；所述调制脉冲、o光和e光入射方向与介质片4表面法线夹角小于5°；所述调制脉冲用于改变介质片4的极化率，进而改变介质片4的折射率；在o光和e光经介质片4反射的光路上依次设有偏振器5、透镜6和能量探测器7；o光和e光经偏振器5在空间上分光，分光后入射至透镜6聚焦，聚焦后入射至能量探测器7，所述能量探测器7用于观察o光和e光两个采样脉冲的能量变化，获得o光和e光功率峰值对应时刻反射率的调制。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种超短脉冲载波包络相位噪声单发测量装置及测量方法
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