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申请/专利权人：沈阳工业大学
摘要：本实用新型提供一种叶尖间隙测量校准装置，涉及叶尖间隙测量校准技术领域。叶尖间隙测量校准装置包括磁致伸缩位移机构和电容式传感器，磁致伸缩位移机构的输出端在磁场的变化下可伸缩地设置；电容式传感器的探头与磁致伸缩位移机构的输出端连接；电容式传感器的探头用于与实验缩尺叶轮模型或单个实验缩尺叶片模型的叶尖间隔设置。当磁致伸缩位移机构的输出端在磁场的变化下伸缩时，会带动电容式传感器的探头移动，由于磁致伸缩位移机构可以实现微米级位移，从而可以实现极板间距离的微米级调整，进而有利于提高极板间距离的调整精度，有利于提高叶尖间隙测量校准的准确性。
主权项：1.一种叶尖间隙测量校准装置，其特征在于，包括：磁致伸缩位移机构10，所述磁致伸缩位移机构10的输出端在磁场的变化下可伸缩地设置；电容式传感器，所述电容式传感器的探头20与所述磁致伸缩位移机构10的输出端连接；所述电容式传感器的探头20用于与实验缩尺叶轮模型1或单个实验缩尺叶片模型2的叶尖间隔设置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 沈阳工业大学 一种叶尖间隙测量校准装置
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