龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：贵州航天计量测试技术研究所
摘要：本发明公开了一种基于微波近场成像的塑封电子元器件缺陷检测系统，所述系统包括微波传感器探头，微波传感器探头固定于三维运动控制平台Z轴上，塑封电子元器件样品放置于三维运动控制平台的大理石平面上，扫描时由三维运动控制平台Z轴运动带动微波传感器探头扫描；扫描信息发送至毫米波信号分析仪模块，毫米波信号分析仪模块与工控机模块连接；解决了现有技术利用超声波显微镜对元器件内部缺陷进行检测，扫描完成后为了消除水汽对塑封电子元器件使用可靠性造成影响，往往需要对塑封电子元器件进行高温烘焙去除，去潮过程耗时长且存在去潮不彻底的可能，最终影响塑封电子元器件高可靠使用等技术问题。
主权项：1.一种基于微波近场成像的塑封电子元器件缺陷检测系统，其特征在于：所述系统包括微波传感器探头，微波传感器探头固定于三维运动控制平台Z轴上，塑封电子元器件样品放置于三维运动控制平台的大理石平面上，扫描时由三维运动控制平台Z轴运动带动微波传感器探头扫描；扫描信息发送至毫米波信号分析仪模块，毫米波信号分析仪模块与工控机模块连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 贵州航天计量测试技术研究所 一种基于微波近场成像的塑封电子元器件缺陷检测系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号